半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱是一種具有溫度控制功能的設備，通過快速改變溫度來模擬芯片在不同環(huán)境下的工作狀態(tài)。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度，或者相反。這種溫度的迅速變化可以導致材料的膨脹和收縮，從而引發(fā)物理和化學性質(zhì)的改變。通過在冷熱沖擊箱中進行長時間的測試，科學家們可以模擬芯片在不良條件下的工作情況，以便評估其性能和可靠性。

在冷熱沖擊箱中進行的測試通常包括冷凍、加熱和恒溫三個階段。首先，芯片會被暴露在較低溫度的環(huán)境中，來模擬在寒冷的氣候下工作時的情況。然后，溫度會迅速上升到較高的水平，來測試芯片在高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能。至后，在恒溫條件下進行長時間測試，來模擬芯片在常溫環(huán)境下的工作情況。通過這一系列的測試，科學家們可以綜合評估芯片在不同溫度下的性能和可靠性，為電子設備的開發(fā)和制造提供重要的參考依據(jù)。

規(guī)格技術(shù)參數(shù)：

 型號：BY-260D

 ①規(guī)格(容量)：63升

 測試區(qū)尺寸：400*350*350(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約)：1500*1450*1900(W*D*Hmm)

 ②規(guī)格(容量)：80升

 測試區(qū)尺寸：500*400*400(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約)：1600*1500*2000(W*D*Hmm)

 ③規(guī)格(容量)：150升

 測試區(qū)尺寸：600*500*500(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約)：1700*1600*2000(W*D*Hmm)

 ④規(guī)格(容量)：225升

 測試區(qū)尺寸：500*600*750(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約)：1800*1800*2000(W*D*Hmm)

 ⑤規(guī)格(容量)：500升

 測試區(qū)尺寸：800*800*800(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約)：2600*1900*2000(W*D*Hmm)

 ⑥規(guī)格(容量)：1000升

 測試區(qū)尺寸：1000*1000*1000(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約)：2800*2000*2200(W*D*Hmm)

 高溫儲熱范圍：+60℃--+200℃

 低溫儲冷范圍：-10℃～-55℃(A型),-10℃～-65℃(B型),-10℃～-75℃(C型)

 試驗范圍：

 高溫：+60℃~+150℃

 低溫：-10℃~-40℃(A型)；-10℃~-55℃(B型)；-10~-60℃(C型)

 升溫時間：+60℃~+200℃約需25min

 降溫時間：+20℃~-55℃小于60min；+20℃~-65℃小于75min；+20℃~-75℃小于90min；

 風門切換時間：小于或等于10S

 溫度恢復時間：5min

 溫度波動：±0.5℃

 溫度偏差：±2℃

 免費送貨上門，并安裝調(diào)試操作介紹，同時進行機器操作技術(shù)培訓。(直到需方員工獨立操作并滿意為止)。

 本產(chǎn)品符合GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等國家標準。

溫度程控器：7寸液晶數(shù)顯觸摸屏控制器。

   a.控制器規(guī)格:精度:±0.1℃+1digit.分辨率:±0.1.

   具有上下限待機及警報功能.

   溫度入力信號:T型感溫線.P.I.D控制參數(shù)設定,P.I.D自動演算.

   b.畫面顯示功能:采用圖控軟件畫面對談式,無須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項:

   包括程序設定、曲線顯示、歷史數(shù)據(jù)、手動運轉(zhuǎn)、自動運轉(zhuǎn)、輔助設定等.

   可顯示目前執(zhí)行狀態(tài)、溫度設定值、時間設定值、剩余時間、剩余循環(huán)次數(shù)

   具單獨程序編輯畫面,可輸入溫度,時間及循環(huán)次數(shù).

   溫度程序具實時顯示程序曲線執(zhí)行功能

   顯示故障狀態(tài)及說明故障排除方法

   屏幕可作背光調(diào)整,屏幕顯示保護功能可作定時,關(guān)閉設定.

   中、英文可相互切換.

   c.程序容量及控制功能:

   可使用的程序組:120個PATTEN。

   可重復執(zhí)行命令:可達999次。LSEGMENTS時間設定0～99Hour59Min。

   程序之制作采對談式設定功能。

   9組程序相互連接功能.

   具有斷電程序記憶,復電后自動啟動并接續(xù)執(zhí)行程序功能。

   高低溫沖擊時自動補償溫度功能.

   程序執(zhí)行時可實時顯示圖形曲線。

   除霜時間、次數(shù)及除霜溫度設定及執(zhí)行功能.

   具有預約啟動及關(guān)機功能.

   具有日期,時間調(diào)整功能.

半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱主要配置：

  1、內(nèi)箱材質(zhì)采用SUS304不銹鋼板，外箱材質(zhì)采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板，增加外觀質(zhì)感及潔凈度，造型美觀大方。

  2、箱體保溫層采用高強度PU及保溫棉，達到優(yōu)良的保溫效果。

  3、試驗箱配置50mm,測試孔，配發(fā)泡硅膠塞密封，可外接測試電源線或信號線使用。

  4、機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪，附水平腳。

  5、7英寸溫濕度控制器，具有操作簡單，易學，控制精度高，PID模式，可10%以上。

  6、可以獨立設定高溫、低溫、冷熱沖擊三種不同條件，具備高低溫試驗機的功能。

  7、可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜.出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構(gòu)切換時間為10秒內(nèi)完成。

  8、具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制。

  9、溫度恢復時間為5分鐘內(nèi)完成。

  10、運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障原因，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置。

  11、可選配USB接口存儲方便，到有標準的RS-232或RS-485計算機通訊接口。實現(xiàn)遠程控制。