普桑達(dá) 高溫試驗機(jī) 高溫老化試驗室是一種用于模擬高溫環(huán)境對產(chǎn)品進(jìn)行老化測試的設(shè)備。它被廣泛應(yīng)用于電子、電器、汽車、航空航天等行業(yè),以驗證產(chǎn)品在惡劣高溫條件下的可靠性和耐久性。
產(chǎn)品分類
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控制系統(tǒng):
7英寸智能數(shù)顯薄膜按鍵控制儀表,控溫精準(zhǔn)、操作簡單方便、安全可靠。
儀表解析精度0.1℃。
運(yùn)行方式:定值運(yùn)行(溫度可任意設(shè)置,可調(diào)、可控)。
溫度傳感器:優(yōu)質(zhì)PT100傳感器,精度高、波動度小、長壽命。
人性化設(shè)計的操作方法,易學(xué)易用,并且不同功能檔次的儀表操作相互兼顧。
輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng),測量精確穩(wěn)定,具備溫度補(bǔ)償功能可方便修正溫度實際偏差。
具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能PID調(diào)節(jié)功能,多種報警模式。
設(shè)備配有定時器,具有定時關(guān)機(jī)和計時功能,時間到后可自動停機(jī),省去人工計時操作的麻煩。
控制方式:連續(xù)PID 控制+SSR 系統(tǒng)同步協(xié)調(diào)控制,控制精度高,系統(tǒng)更加穩(wěn)定,控制組件壽命更長。
控制系統(tǒng)采用固態(tài)繼電器過零觸發(fā),以降低噪音,減少污染,方便維修,提高控制精度。
在控制系統(tǒng)中設(shè)有安全保護(hù)措施,包括:缺相保護(hù)、相序錯誤保護(hù)、相電壓不平衡保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫。當(dāng)其中任一項保護(hù)功能動作時,設(shè)備自動停止運(yùn)行,同時警報燈響,待故障排除后才能啟動設(shè)備。
加熱裝置:不銹鋼翅片加熱管,安裝方便,易于維修和更換。
對流系統(tǒng):
多葉片渦輪風(fēng)扇、耐高溫專用風(fēng)機(jī)。加快工作室內(nèi)的溫度平衡時間,改善室內(nèi)的溫度均勻性。
試驗室設(shè)有獨立的循環(huán)風(fēng)道,在風(fēng)道內(nèi)增加龍骨結(jié)構(gòu),形成穩(wěn)固的風(fēng)道骨架,循環(huán)風(fēng)機(jī)合理的分布在風(fēng)道內(nèi),安裝在牢固的馬達(dá)架上。有效保證試驗室內(nèi)的空氣循環(huán)和溫度均勻。
在風(fēng)道內(nèi)設(shè)有傳感報警裝置,當(dāng)風(fēng)道內(nèi)壁溫度過高、循環(huán)風(fēng)機(jī)過熱時會發(fā)出報警信號并自動切斷電源。
安全保護(hù)裝置:
電源超載、短路保護(hù)。
箱體接地保護(hù):箱體內(nèi)壁連接成一個整體,且與外界大地接地連通。
超溫保護(hù):為了防止樣品因箱內(nèi)溫度高而損壞,當(dāng)實際溫度超過設(shè)定值后自動切斷電源,并產(chǎn)生報警提示,從而實現(xiàn)保護(hù)樣品的目的。
電源缺相報警:防止電源因缺相原因造成各相電流不平衡,影響加熱效果。
護(hù)套式接線端子。
報警訊響提示:
普桑達(dá) 高溫試驗機(jī) 高溫老化試驗室性能參數(shù):
型號:BY-260LF
工作室尺寸:按用戶要求定做,體積從2m3~200m3不等
實驗室結(jié)構(gòu): 可拆裝現(xiàn)場拼裝結(jié)構(gòu)方式。
在無試驗負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定2小時后測定的性能。另外,關(guān)于溫度上升時間是指風(fēng)冷式在室溫+25℃,空載時的性能:
溫度范圍:RT+10℃~70℃.
溫度波動度:≤±0.5℃.
溫度均勻度: ≤±3.0℃.
溫度偏差:≤±2.5℃
升溫速率:RT~70℃,平均1~3℃/min(非線性空載).
※ 溫度變化速率為空氣溫度變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率.
庫房板: 房體采用 75MM 巖棉板裝配而成,外面 0.8 厚彩鋼,內(nèi)部 0.8 厚彩鋼板。模塊化組合,板材之間連接固定為隱藏式,緊固件不外露,安裝拆卸方便。五面保溫,板面復(fù) PVC 保護(hù)膜,避免傷痕、污跡破損,外形美觀大方。
控制柜:放在箱體的右側(cè),操作順勢方便、美觀大方,表面靜電噴塑處理;控制柜內(nèi)的
所有電線均有序號和編號,線路清楚,一目了然。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB2423.2—2001 試驗B:高溫試驗方法;
GB2423.22—2002 溫度變化試驗方法;
GB2423.2—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》溫度實驗設(shè)備檢定方法
GB/T5170.5—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境實驗設(shè)備檢驗方法。
GB/50054-95《低壓配電設(shè)計規(guī)范》
GB/5002S2-95《供配電設(shè)計規(guī)范》