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普桑達(dá) 高低溫老化 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表、藥品、食品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該設(shè)備既可進(jìn)行高低溫定值試驗(yàn),又可做高低溫交替循環(huán)試驗(yàn),任何溫度之間可以任意轉(zhuǎn)換。
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加溫裝置是控制高低溫試驗(yàn)箱是否升溫的關(guān)鍵環(huán)節(jié),控制器在得到升溫指令時(shí)輸出電壓給繼電器,高低溫試驗(yàn)箱大約3-12伏直流電加在固態(tài)繼電器上面,它的交流端相當(dāng)于導(dǎo)線接通,接觸器也同時(shí)吸合,加熱器兩端有電壓使其發(fā)熱,通過循環(huán)風(fēng)機(jī)帶動(dòng)把熱量帶到箱里,使試驗(yàn)箱升溫。
降溫是高低溫試驗(yàn)箱的重要環(huán)節(jié),直接影響著一臺(tái)高低溫及性能好壞的判定,它包括壓縮機(jī),冷凝器,節(jié)流裝置,蒸發(fā)器四大組成,壓縮機(jī)是制冷系統(tǒng)心臟,它吸入低溫低壓氣體,變成高溫高壓氣體,通過冷凝成液體放出熱量,通過風(fēng)機(jī)帶走熱量,所以試驗(yàn)箱下面是熱風(fēng)原因,然后通過節(jié)流成為低壓液體,其次通過蒸發(fā)器成為低溫低壓氣體*后回到壓縮機(jī),制冷劑在蒸發(fā)器中吸收高低溫箱熱量完成氣化過程重而吸收熱量,達(dá)到制冷目的,完成高低溫試驗(yàn)箱降溫過程。
主要特點(diǎn):
A:三維立體造型設(shè)計(jì),外觀美觀大方,外箱采用不銹鋼拉絲板或A3鋼板靜電噴涂.
B:內(nèi)膽材料為(SUS#304)8K鏡面不銹鋼板。
C:保溫材質(zhì):硅酸鋁纖維棉.保溫厚度為100mm。硅酸鋁纖維棉可耐高溫1300度。
D:運(yùn)風(fēng)系統(tǒng):采用加長(zhǎng)軸電機(jī),耐高低溫,高濕之鋁質(zhì)多翼式葉輪,以達(dá)對(duì)流垂直擴(kuò)散循環(huán)。
E:門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性硅膠密封條。
F:采用無反作用門把手,操作更容易。
G:機(jī)器底部采用PU活動(dòng)輪,附水平腳輪。
H:觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜(可清楚觀察試驗(yàn)過程)。
I: 試驗(yàn)箱左側(cè)配置直徑50mm或100mm,測(cè)試孔,配發(fā)泡硅膠塞密封,可外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。
J:安全保護(hù)裝置,發(fā)生故障時(shí),由屏幕顯示故障狀態(tài)及切斷電源。
K:采用法國(guó)泰康或美國(guó)谷輪牌的制冷壓縮機(jī),具有噪音低,制冷量穩(wěn)定,節(jié)能,性能穩(wěn)定等特點(diǎn)。
L:7寸彩色溫濕度控制器,具有操作簡(jiǎn)單,易學(xué),控制穩(wěn)定,PID模式等特點(diǎn)。
普桑達(dá) 高低溫老化 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱性能參數(shù):
型號(hào):BY-260CJ(交變?cè)囼?yàn))
內(nèi)外箱尺寸說明(寬×高×深;單位:厘米)
80升---內(nèi)箱尺寸:40×50×40cm;外箱尺寸:92×155×87cm
100升--內(nèi)箱尺寸:40×50×50cm;外箱尺寸:92×155×97cm
120升--內(nèi)箱尺寸:40×60×50cm;外箱尺寸:92×165×97cm
150升--內(nèi)箱尺寸:50×60×50cm;外箱尺寸:102×165×97cm
225升--內(nèi)箱尺寸:50×75×60cm;外箱尺寸:102×180×107cm
408升--內(nèi)箱尺寸:60×85×80cm;外箱尺寸:112×190×127cm
800升--內(nèi)箱尺寸:100×100×80cm;外箱尺寸:152×215×127cm
1000升--內(nèi)箱尺寸:100×100×100cm;外箱尺寸:152×215×147cm
溫度范圍:-20℃~150℃ -40℃~150℃ -70℃~150℃
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
溫度偏差:≤±1.0℃
溫度均勻度:≤±2.0℃
升溫速率:3.0℃~4.0℃/min(非線性空載)
降溫速率:0.7℃~1.2℃/min(非線性空載)
電源:AC380V±10%,50Hz
符合標(biāo)準(zhǔn):性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)