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半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱是一種具有溫度控制功能的設備，通過快速改變溫度來模擬芯片在不同環(huán)境下的工作狀態(tài)。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度，或者相反。這種溫度的迅速變化可以導致材料的膨脹和收縮，從而引發(fā)物理和化學性質的改變。

南昌高低溫沖擊試驗箱適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。

天津高低溫沖擊試驗箱是通過建立低溫、高溫兩個環(huán)境，來對試驗物品進行溫度的交替變化試驗。冷熱沖擊試驗箱對試驗物品的溫度變化沖擊速率是其他設備無法達到的，可以模擬驟冷驟熱的環(huán)境。

武漢冷熱沖擊試驗機BY-260D-80廣泛應用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復抵拉力。其優(yōu)良的外觀材質增加了整體的質感及潔凈度，造型美觀大方。冷熱沖擊試驗箱試驗出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質，從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的認同。